| 役職 | 名前 | |
|---|---|---|
| 教授 | 大貫仁 | |
| 講師 | 田代優 | |
| 研究員 | Khoo Khyou Pin | |
| 学年 | 名前 | 研究テーマ |
| D1 | Huan Yong Hui | EM（エレクトロマイグレーション）耐性 |
| M2 | 高藤圭吾 | |
| M2 | 飛田美帆 | LSI用高性能化・高信頼性配線材料 |
| M1 | 橋本一慶 | 垂直磁気記録薄膜の膜構造及び磁気特性の解析 |
| B4 | 石井奈々 | EM耐性 |
| B4 | 渋谷将太 | LSI用高性能化・高信頼性配線材料 |
| B4 | 長崎侑弥 | 垂直磁気記録薄膜の膜構造及び磁気特性の解析 |
| B4 | 中村恵英 | ワイヤボンディングの信頼性 |
| B4 | 福田正博 | LSI用高性能化・高信頼性配線材料 |
| B4 | 横田優里 | LSI用高性能化・高信頼性配線材料 |
| B4 | 郡司哲也 | ワイヤボンディングの信頼性 |
